Содержание
Как проверить пульт дистанционного управления?
Инфракрасные пульты дистанционного управления прочно заняли место в бытовой электронике. Какую только аппаратуру не комплектуют этим весьма удобным устройством, это и телевизоры, музыкальные центры, микроволновые печи, автомобильные CD/MP-проигрыватели, люстры и много много других привычных нам вещей.
Столь широкое распространение пультов дистанционного управления не могло не сказаться на их частых поломках. Поскольку новый, необходимый для конкретного прибора пульт иногда трудно приобрести, то их сдают в ремонт.
Как быстро проверить пульт дистанционного управления?
Самым простым и действенным методом можно считать проверку пультов (ПДУ) с помощью цифровых камер. Сейчас практически в каждом сотовом телефоне есть цифровая камера.
Во многих ноутбуках есть встроенная web-камера. Для нетбуков цифровая web-камера вообще обязательный атрибут. Также для проверки пультов ДУ подходят цифровые фото и видеокамеры. В общем, любое устройство в котором есть пусть самая простая цифровая камера сгодятся для проверки пульта.
Для проверки ПДУ необходимо лишь направить излучающий инфракрасный светодиод в объектив камеры. На цифровом дисплее при нажатии кнопок на пульте будут видны периодические вспышки фиолетового цвета свечения. Это свидетельствует об исправности пульта дистанционного управления.
На фото показаны вспышки инфракрасного светодиода, заснятые камерой мобильного телефона Sony Ericsson K810i.
Если же под рукой нет устройств с цифровой камерой, то можно воспользоваться следующим способом.
Необходимо вместо инфракрасного светодиода временно впаять обычный светоизлучающий диод. Светодиод может быть любого цвета свечения: красный, зелёный, жёлтый, белый, в общем, не важно, главное чтобы светодиод был на 3 вольта.
При нажатии на кнопки пульта временно впаянный обычный светодиод будет излучать вспышки света. Следует отметить, что яркость излучения будет небольшой.
На фото – обычный белый светодиод, впаянный вместо инфракрасного.
Пульт ДУ можно проверить с помощью инфракрасного фотодиода и осциллографа.
В данном случае инфракрасный фотодиод подключают ко входу осциллографа. При работе пульта на экране осциллографа будут видны импульсы коротких посылок. Важно, чтобы фотодиод был подключен к открытому входу осциллографа.
Вот так просто и легко можно проверить работоспособность любого инфракрасного пульта дистанционного управления. Для этого совсем не обязательно собирать какие-либо схемы пробников и захламлять итого перегруженную мастерскую, ведь все необходимые инструменты уже есть под рукой, уж мобильник то с камерой точно
Главная » Мастерская » Текущая страница
Также Вам будет интересно узнать:
Ремонт сетевого адаптера. Простой ремонт сетевых адаптеров питания.
Ремонт музыкального центра Samsung MAX-VS720.
Типичные неисправности лазерных приводов.
Распространённые неисправности музыкальных центров.
Как проверить транзистор,диод,конденсатор,резистор и др
Как проверить работоспособность радиодеталей
Сбои в работе многих схем иногда случаются не только из-за ошибок в самой схеме,но так же в том что где-то сгоревшая или просто бракованная радиодеталь.
На вопрос как проверить работоспособность радиодетали, во многом нам поможет прибор который есть наверно у каждого радиолюбителя- мультиметр.
Мультиметр позволяет определять напряжение, силу тока, емкость, сопротивление,и многое другое.
Как проверить резистор
Постоянный резистор проверяется мультиметром, включенным в режим омметра. Полученный результат надо сравнить с номинальным значением сопротивления, указанным на корпусе резистора и на принципиальной схеме.
При проверке подстроечных и переменных резисторов сначала надо проверить величину сопротивления, замерив его между крайними (по схеме) выводами, а затем убедиться в надежности контакта между токопроводящим слоем и ползунком. Для этого надо подключить омметр к среднему выводу и поочередно к каждому из крайних выводов. При вращении оси резистора в крайние положения, изменение сопротивления переменного резистора группы «А» (линейная зависимость от угла поворота оси или положения движка) будет плавным, а резистора группы «Б» или «В» (логарифмическая зависимость) имеет нелинейный характер.
Для переменных (подстроечных) резисторов характерны три неисправности: нарушения контакта движка с проводящим слоем; механический износ проводящего слоя с частичным нарушением контакта и изменением величины сопротивления резистора в большую сторону; выгорание проводящего слоя, как правило, у одного из крайних выводов. Некоторые переменные резисторы имеют сдвоенную конструкцию. В этом случае каждый резистор проверяется отдельно. Переменные резисторы, применяемые в регуляторах громкости, иногда имеют отводы от проводящего слоя, предназначенные для подключения цепей тонконпенсации. Для проверки наличия контакта отвода с проводящим слоем омметр подключают к отводу и любому из крайних выводов. Если прибор покажет какую-то часть от общего сопротивления, значит имеется контакт отвода с проводящим слоем.
Фоторезисторы проверяются аналогично обычным резисторам, но для них будет два значения сопротивления. Одно до засветки — темновое сопротивление (указывается в справочниках), второе — при засветке любой лампой (оно будет в 10.
.. 150 раз меньше темнового сопротивления).
Как проверить конденсаторы
Простейший способ проверки исправности конденсатора — внешний осмотр, при котором обнаруживаются механические повреждения, например деформация корпуса при перегреве вызванного большим током утечки. Если при внешнем осмотре дефекты не замечены, проводят электрическую проверку.
Омметром легко определить один вид неисправности – внутреннее короткое замыкание (пробой). Сложнее дело обстоит с другими видами неисправности конденсаторов: внутренним обрывом, большим током утечки и частичной потерей емкости. Причиной последнего вида неисправности у электролитических конденсаторов бывает высыхание электролита. Многие цифровые тестеры обеспечивают возможность измерения емкости конденсаторов в диапазоне от 2000 пФ до 2000 мкФ. В большинстве случаев этого достаточно. Надо отметить, что электролитические конденсаторы имеют довольно большой разброс допустимого отклонения от номинальной величины емкости. У конденсаторов некоторых типов он достигает- 20%,+80%, то есть, если номинал конденсатора 10мкФ, то фактическая величина его емкости может быть от 8 до 18мкФ.
При отсутствии измерителя емкости конденсатор можно проверить другими способами.
Конденсаторы большой емкости (1 мкФ и выше) проверяют омметром. При этом от конденсатора отпаивают детали, если он в схеме и разряжают его. Прибор устанавливают для измерения больших сопротивлений. Электролитические конденсаторы подключают к щупам с соблюдением полярности.
Если емкость конденсатора больше 1 мкФ и он исправен, то после присоединения омметра конденсатор заряжается, и стрелка прибора быстро отклоняется в сторону нуля (причем отклонение зависит от емкости конденсатора, типа прибора и напряжения источника питания), потом стрелка медленно возвращается в положение «бесконечность».
При наличии утечки омметр показывает малое сопротивление — сотни и тысячи ом, — величина которого зависит от емкости и типа конденсатора. При пробое конденсатора его сопротивление будет около нуля. При проверке исправных конденсаторов емкостью меньше 1 мкФ стрелка прибора не отклоняется, потому что ток и время заряда конденсатора незначительны.
При проверке омметром нельзя установить пробой конденсатора, если он происходит при рабочем напряжении. В таком случае можно проверить конденсатор мегаомметром при напряжении прибора, не превышающем рабочее напряжение конденсатора.
Конденсаторы средней емкости (от 500 пФ до 1 мкФ) можно проверить с помощью последовательно подключенных к выводам конденсатора наушников и источника тока. Если конденсатор исправен, в момент замыкания цепи в головных телефонах слышен щелчок.
Конденсаторы малой емкости (до 500 пФ) проверяют в цепи тока высокой частоты. Конденсатор включают между антенной и приемником. Если громкость не уменьшится, значит, обрывов выводов нет.
Как проверить трансформатор, дроссель, катушку индуктивности
Проверка начинается с внешнего осмотра, в ходе которого необходимо убедиться в исправности каркаса, экрана, выводов; в правильности и надежности соединений всех деталей катушки; в отсутствии видимых обрывов проводов, замыканий, повреждения изоляции и покрытий.
Особое внимание следует обращать на места обугливания изоляции, каркаса, почернение или оплавление заливки.
Наиболее частая причина выхода из строя трансформаторов (и дросселей) — их пробой или короткое замыкание витков в обмотке или обрыв выводов. Обрыв цепи катушки или наличие замыканий между изолированными по схеме обмотками можно обнаружить при помощи любого тестера. Но если катушка имеет большую индуктивность (т. е. состоит из большого числа витков), то цифровой мультиметр в режиме омметра вас может обмануть (показать бесконечно большое сопротивление, когда цепь все же есть) — для таких измерений «цифровик» не предназначен. В этом случае надежнее аналоговый стрелочный омметр.
Если проверяемая цепь есть, это еще не значит, что все в норме. Убедиться в том, что внутри обмотки нет коротких замыканий между слоями, приводящих к перегреву трансформатора, можно по значению индуктивности, сравнив ее с аналогичным изделием.
Когда такой возможности нет, можно воспользоваться другим методом, основанном на резонансных свойствах цепи.
От перестраиваемого генератора подаем синусоидальный сигнал поочередно на обмотки через разделительный конденсатор и контролируем форму сигнала во вторичной обмотке.
Если внутри нет межвитковых замыканий, то форма сигнала не должна отличаться от синусоидальной во всем диапазоне частот. Находим резонансную частоту по максимуму напряжения во вторичной цепи. Короткозамкнутые витки в катушке приводят к срыву колебаний в LC-контуре на резонансной частоте. У трансформаторов разного назначения рабочий частотный диапазон отличается — это надо учитывать при проверке:
— сетевые питающие 40…60 Гц;
— звуковые разделительные 10…20000Гц;
— для импульсного блока питания и разделительные .. 13… 100 кГц.
Импульсные трансформаторы обычно содержат малое число витков. При самостоятельном изготовлении убедиться в их работоспособности можно путем контроля коэффициента трансформации обмоток. Для этого подключаем обмотку трансформатора с наибольшим числом витков к генератору синусоидального сигнала на частоте 1 кГц.
Эта частота не очень высокая и на ней работают все измерительные вольтметры (цифровые и аналоговые), в то же время она позволяет с достаточной точностью определить коэффициент трансформации (такими же они будут и на более высоких рабочих частотах). Измерив напряжение на входе и выходе всех других обмоток трансформатора, легко посчитать соответствующие коэффициенты трансформации.
Как проверить диод,фотодиод
Любой стрелочный (аналоговый) омметр позволяет проверить прохождение тока через диод (или фотодиод) в прямом направлении — когда «+» тестера приложен к аноду диода. Обратное включение исправного диода эквивалентно разрыву цепи.
Цифровым прибором в режиме омметра проверить переход не удастся. Поэтому у большинства современных цифровых мультиметров есть специальный режим проверки p-n-переходов (на переключателе режимов он отмечен знаком диода). Такие переходы есть не только у диодов, но и фотодиодов, светодиодов, а также транзисторов. В этом режиме «цифровик» работает как источник стабильного тока величиной 1 мА (такой ток проходит через контролируемую цепь) —- что совершенно безопасно.
При подключенном контролируемом элементе прибор показывает напряжение на открытом p-n-переходе в милливольтах: для германиевых 200…300 мВ, а для кремниевых 550…700 мВ. Измеренное значение может быть не более 2000 мВ.
Однако, если напряжение на щупах мультиметра ниже отпирания диода, диодного или селенового столба, то прямое сопротивление измерить невозможно.
Проверка биполярного транзистора
Некоторые тестеры имеют встроенные измерители коэффициента усиления маломощных транзисторов. Если у вас такого прибора нет, то при помощи обычного тестера в режиме омметра или же цифровым, в режиме проверки диодов, можно проверить исправность транзисторов.
Проверка биполярных транзисторов основана на том, что они имеют два n-p перехода, поэтому транзистор можно представить как два диода, общий вывод которых – база. Для n-p-n транзистора эти два эквивалентных диода соединены с базой анодами, а для транзистора p-n-p катодами. Транзистор исправен, если исправны оба перехода.
Для проверки один щуп мультиметра присоединяют к базе транзистора, а вторым щупом поочередно прикасаются к эмиттеру и коллектору. Затем меняют щупы местами и повторяют измерение.
При прозвонке электродов некоторых цифровых или мощных транзисторов следует учитывать, что у них могут внутри быть установлены защитные диоды между эмиттером и коллектором, а также встроенные резисторы в цепи базы или между базой и эмиттером. Не зная этого, элемент по ошибке можно принять за неисправный.
- Комментарии
Social Comments
Система и способ использования фотодиода для самотестирования оптического привода
Данное изобретение в целом относится к области компьютеров, а более конкретно, к системе и способу использования фотодиода для самотестирования оптического привода.
Поскольку ценность и использование информации продолжают расти, частные лица и предприятия ищут дополнительные способы обработки и хранения информации.
Одним из вариантов, доступных пользователям, являются системы обработки информации. Система обработки информации обычно обрабатывает, компилирует, хранит и/или передает информацию или данные для деловых, личных или других целей, тем самым позволяя пользователям воспользоваться ценностью информации. Поскольку потребности и требования к технологиям и обработке информации различаются для разных пользователей или приложений, системы обработки информации также могут различаться в зависимости от того, какая информация обрабатывается, как обрабатывается информация, какой объем информации обрабатывается, хранится или передается, а также насколько быстро и эффективно информация может обрабатываться, храниться или передаваться. Различия в системах обработки информации позволяют системам обработки информации быть общими или настраиваться для конкретного пользователя или конкретного использования, такого как обработка финансовых транзакций, бронирование авиабилетов, хранение корпоративных данных или глобальная связь.
Кроме того, системы обработки информации могут включать в себя множество аппаратных и программных компонентов, которые могут быть сконфигурированы для обработки, хранения и передачи информации, и могут включать в себя одну или несколько компьютерных систем, систем хранения данных и сетевых систем.
Компьютерная система — это один из типов систем обработки информации. Примеры компьютерных систем включают серверы, персональные компьютеры, ноутбуки и портативные компьютеры, рабочие станции и персональные цифровые помощники. Как правило, компьютерная система включает в себя процессор, память, дисплей, клавиатуру, жесткий диск и одно или несколько устройств ввода/вывода («I/O»), таких как дисковод для гибких дисков или оптический дисковод.
Поскольку оптические приводы могут поставляться потребителям и другим производителям компьютерных систем, оптические приводы могут быть повреждены или иметь дефекты в результате транспортировки и/или сборки. Как правило, когда оптический дисковод устанавливается в компьютерную систему, он тестируется, чтобы убедиться, что дисковод работает правильно.
Поэтому производители разрабатывают различные методы тестирования для проверки накопителя и связанных с ним операций.
Один из таких тестов включает установку тестового носителя в дисковод и выполнение ряда тестов, таких как операции чтения и/или записи. Однако при длительном использовании тестовый оптический носитель может испортиться и выйти из строя. Следовательно, тест оптического привода может сообщить о том, что привод неисправен или неисправен. Однако фактическая неисправность или дефект могут существовать в тестовом носителе.
Другой тип проверки включает размещение фиксированного отражающего материала в дисководе для оптических дисков в качестве замены тестового носителя. Однако метод тестирования требует правильного размещения и выравнивания дополнительного компонента по отношению к оптическому дисководу.
Таким образом, возникла потребность в системе и способе тестирования оптического привода с использованием фотодиода вместо оптического носителя.
Возникла дополнительная потребность в системе и способе тестирования дисковода для оптических дисков с использованием дисковода для оптических дисков с использованием шаблона сигнала самотестирования.
Возникла дополнительная потребность в системе и способе настройки оптического привода с использованием шаблона тестового сигнала во взаимодействии со схемой.
В соответствии с идеями настоящего изобретения недостатки и проблемы, связанные с тестированием дисковода для оптических дисков, были существенно уменьшены или устранены. В некоторых вариантах осуществления настоящего раскрытия оптический привод включает в себя источник света, который излучает свет для взаимодействия с оптическими носителями. Фотодиод, расположенный рядом с источником света, обнаруживает часть света, так что фотодиод генерирует электрический сигнал, пропорциональный обнаруженному свету. Цепь электрически связана с фотодиодом. Схема получает электрический сигнал и на его основе проверяет работоспособность оптического привода.
В других вариантах оптический привод включает в себя усилитель. Усилитель электрически связан с цепью. Усилитель может увеличить электрический сигнал от фотодиода.
В другом варианте дисковод для оптических дисков включает переключатель.
Переключатель электрически соединен между фотодиодом и схемой. Переключатель включает в себя первое положение, в котором фотодиод электрически соединен с набором микросхем в оптическом приводе. Переключатель также имеет второе положение, в котором фотодиод электрически соединен со схемой, так что электрический сигнал принимается схемой.
В дополнительном варианте осуществления способ использования фотодиода для самотестирования оптического привода включает в себя испускание света, имеющего заранее заданную конфигурацию, от источника света. Свет взаимодействует с оптическими носителями, размещенными в оптическом приводе. Метод обнаруживает часть света на фотодиоде и генерирует электрический сигнал на фотодиоде, который пропорционален обнаруженному свету. Этот метод сравнивает электрический сигнал с предопределенной конфигурацией для самопроверки оптического привода.
Настоящее изобретение содержит ряд важных технических преимуществ. Одним из технических преимуществ является использование фотодиода вместо оптического носителя для проверки оптического привода.
Поскольку многие оптические приводы или оптические приводы обычно содержат один или несколько фотодиодов, тестирование оптического привода с фотодиодом позволяет протестировать привод с использованием существующих компонентов внутри привода. Кроме того, техническому специалисту не нужно открывать каждый отдельный привод, чтобы вставить носитель. Действительно, дисковод для оптических дисков можно протестировать с использованием схем или компонентов, уже установленных в дисководе для оптических дисков.
Еще одно техническое преимущество включает в себя систему и способ тестирования оптического привода с использованием оптического привода с использованием шаблона сигнала самотестирования. Модулирование источника света (например, лазерного диода) в оптическом приводе может создать шаблон сигнала самопроверки, который может быть обнаружен фотодиодом. Схема, такая как модуль самотестирования привода, может использоваться для анализа шаблона сигнала, полученного на фотодиоде, и сравнения его с ожидаемым результатом.
На основании сравнения оптический привод может быть проверен на предмет проблем с работоспособностью.
Еще одно техническое преимущество включает в себя систему и способ настройки оптического привода с использованием шаблона тестового сигнала во взаимодействии со схемой. Поскольку привод может быть протестирован с использованием шаблона модуляции для тестового сигнала, для анализа принятого сигнала может использоваться схема. На основе анализа схема может настроить или повторно откалибровать один или несколько компонентов оптического привода. Таким образом, дисковод для оптических дисков может исправить проблемы без необходимости размещения оптических носителей внутри дисковода.
Все, некоторые или ни одно из этих технических преимуществ могут присутствовать в различных вариантах осуществления настоящего изобретения. Другие технические преимущества будут очевидны специалисту в данной области техники из следующих фигур, описаний и формулы изобретения.
Более полное понимание вариантов осуществления настоящего раскрытия и их преимуществ можно получить, обратившись к следующему описанию в сочетании с прилагаемыми чертежами, на которых одинаковые ссылочные позиции указывают на одинаковые элементы, и на которых:
РИС.
1 представляет собой схематический вид оптического привода, использующего второй фотодиод для самотестирования оптического привода в соответствии с примерным вариантом осуществления настоящего раскрытия;
РИС. 2 представляет собой схематический вид оптического привода с использованием второго фотодиода и переключателя для самопроверки оптического привода в соответствии с примерным вариантом осуществления настоящего раскрытия;
РИС. 3 представляет собой схематический вид оптического привода, использующего второй фотодиод и переключатель для выполнения операции самотестирования с существующей схемой набора микросхем в соответствии с примерным вариантом осуществления настоящего раскрытия; и
РИС. 4 иллюстрирует блок-схему использования второго фотодиода для самотестирования оптического привода согласно примерному варианту осуществления настоящего раскрытия.
Предпочтительные варианты осуществления настоящего раскрытия и их преимущества лучше всего понятны со ссылкой на ФИГ.
с 1 по 4, где одинаковые номера используются для обозначения одинаковых и соответствующих частей.
Для целей настоящего раскрытия система обработки информации может включать любой инструмент или совокупность инструментов, предназначенных для вычисления, классификации, обработки, передачи, приема, извлечения, создания, переключения, хранения, отображения, проявления, обнаружения, записи, воспроизведения, обрабатывать или использовать любую форму информации, сведений или данных для деловых, научных, контрольных или других целей. Например, система обработки информации может представлять собой персональный компьютер, сетевое запоминающее устройство или любое другое подходящее устройство и может различаться по размеру, форме, производительности, функциональности и цене. Система обработки информации может включать в себя оперативную память (ОЗУ), один или несколько ресурсов обработки, таких как центральный процессор (ЦП) или аппаратную или программную логику управления, ПЗУ и/или другие типы энергонезависимой памяти.
Дополнительные компоненты системы обработки информации могут включать в себя один или несколько дисководов, один или несколько сетевых портов для связи с внешними устройствами, а также различные устройства ввода-вывода (I/O), такие как клавиатура, мышь и компьютер. видео дисплей. Система обработки информации может также включать в себя одну или несколько шин, предназначенных для передачи сообщений между различными аппаратными компонентами. Ссылаясь на фиг. 1, оптический привод 10 может быть частью системы обработки информации, такой как компьютерная система. Оптический дисковод 10 может различаться в зависимости от типа оптического носителя 24 , который используется с дисководом. Например, дисковод для компакт-дисков («CD») может считывать данные только с оптических носителей 24 , таких как CD-ROM (компакт-диск только для чтения). Однако, если пользователь желает иметь возможности как чтения, так и записи, можно использовать другой тип оптического привода 10 , например привод CD-RW, который имеет возможности чтения и записи на определенные оптические носители, такие как CD-ROM.
R или CD-RW. Другие типы оптических приводов 10 могут использоваться различные типы оптических носителей 24 . Примеры оптических носителей 24 включают цифровой видеодиск («DVD»), DVD-R, DVD-RW и любые другие носители, подходящие для использования в оптическом приводе 10 .
Оптический привод 10 может включать набор микросхем 12 , который может частично или полностью формировать схему управления для работы оптического привода 10 . Как таковой, набор микросхем 12 может содержать различные электрические компоненты, такие как элементы управления системой лазерных линз, элементы управления дисководом, элементы управления механизмом слежения и модули обработки сигналов (не показаны).
Чипсет 12 также может управлять источником света 16 и подавать электроэнергию через соединение с источником света 14 . Например, источником света 16 может быть лазерный диод, такой как маломощный лазерный диод, который излучает лазер, способный фокусироваться на оптическом носителе 24 через зеркало 20 для чтения/записи данных с оптического носителя 24.
. Как правило, источник света 16 излучает свет вдоль светового пути 18 в сторону зеркала 20 .
Как правило, зеркало 20 является частью системы линз внутри оптического привода 10 , что позволяет свету фокусироваться на оптическом носителе 24 . В некоторых примерных вариантах осуществления зеркало 20 фокусирует свет, чтобы он следовал сфокусированному световому пути, который попадает на поверхность оптического носителя 24 , помещенного в оптический дисковод 10 . Свет, отраженный от оптического носителя 24 , может отражаться обратно в отраженный путь 28 таким образом, чтобы свет обнаруживался первым фотодиодом 30 .
В некоторых вариантах осуществления зеркало 20 может иметь поляризованную зеркальную поверхность, способную отражать большой процент света в направлении оптического носителя 24 вдоль пути отраженного света 22 , позволяя при этом части света проходить через зеркало 20 вдоль пути прохождения света 26 .
В одном примерном варианте осуществления зеркало 20 представляет собой поляризованную зеркальную поверхность, которая отражает от шестидесяти до девяноста процентов света в сторону оптического носителя 9.0049 24 , при этом пропуская от десяти до сорока процентов света через зеркало 20 по сквозному световому пути 26 . Как правило, свет, проходящий по пути 26 сквозного света, обнаруживается вторым фотодиодом 34 .
Первый фотодиод 30 и второй фотодиод 34 могут быть частью механизма оптического датчика в оптическом приводе 10 . Примеры первого фотодиода 30 и второго фотодиода 34 может включать фотодиод любого типа, фотоэлектрическое полупроводниковое устройство или устройство обнаружения и/или измерения света, способное преобразовывать энергию излучения, такую как свет, в электрическую энергию. Например, свет, обнаруженный вторым фотодиодом 34 , может быть преобразован в электрический сигнал, пропорциональный количеству обнаруженного света.
Первый фотодиод 30 и второй фотодиод 34 могут использоваться для обнаружения света от источника света 16 и, как правило, оба присутствуют в оптическом приводе 10 . Таким образом, первый фотодиод 30 может использоваться для обнаружения света, отраженного от оптического носителя 24 , который может использоваться для считывания данных с оптического носителя 24 . Как правило, отраженный свет, который может отражаться от ямок и площадок, присутствующих на оптическом носителе 24 , может приниматься в виде световых импульсов. После того, как первый фотодиод 30 обнаружит этот свет, первый фотодиод 30 может генерировать сигнал, пропорциональный свету, который может быть отправлен на набор микросхем 12 по первому пути прохождения сигнала 32 . В наборе микросхем 12 сигнал может быть декодирован и перенаправлен на компьютерную систему или на любой другой тип вывода, такой как аудио- или видеовыход.
Второй фотодиод 34 , также известный как направленный вперед диод, может использоваться для прямого или косвенного обнаружения света от источника света 16 . Таким образом, второй фотодиод 34 может обнаруживать свет без необходимости наличия оптического носителя 24 в оптическом дисководе 10 .
Второй фотодиод 34 может генерировать электрический сигнал, пропорциональный обнаруженному свету. Затем этот электрический сигнал может быть отправлен на схему самопроверки 40 . В некоторых примерных вариантах осуществления схема самотестирования 40 образует часть набора микросхем 12 . Однако в альтернативных вариантах осуществления схема самопроверки 40 является отдельным компонентом, помимо чипсета 12 , который может тестировать и определять работоспособность оптического привода 10 .
В некоторых вариантах осуществления свет от источника света 16 обнаруживается на втором фотодиоде 34 после прохождения через зеркало 20 .
Поскольку зеркало 20 может уменьшить значительную часть света, проходящего через второй фотодиод 34 , и электрический сигнал, генерируемый вторым фотодиодом 34 может быть пропорционален количеству обнаруженного света, электрический сигнал, отправленный на схему самопроверки 40 по второму сигнальному тракту 36 , может проходить через усилитель 38 .
Усилитель 38 , как правило, увеличивает электрический сигнал, генерируемый вторым фотодиодом 34 . Поскольку электрический сигнал может усиливаться, схема самопроверки 40 может быть запрограммирована для учета такого усиления мощности сигнала.
Как правило, усилитель 38 может быть усилителем электрического сигнала, совместимым со вторым фотодиодом 34 . Другие примеры усилителя 38 могут включать схему предварительного усилителя, регулируемый усилитель, усилитель с фильтром, усилители со смещением или любой другой подходящий усилитель, способный увеличить уровень сигнала от фотодиода.
РИС. 2 представляет собой схематический вид оптического привода 10 с использованием второго фотодиода 34 и переключателя 9.0049 42 для самопроверки оптического дисковода 10 . В некоторых вариантах осуществления оптического привода 10 второй фотодиод 34 может выполнять дополнительную функцию внутри оптического привода 10 . Например, второй фотодиод 34 можно использовать для определения мощности лазера, используемой во время операций записи, при этом источник света 16 «прожигает» или записывает данные на оптические носители 24 , такие как DVD-RW или CD. -R диск.
Как таковой оптический привод 10 может включать переключатель 42 для выборочного подключения электрического сигнала, генерируемого вторым фотодиодом 34 , либо к тестовой схеме, такой как схема самотестирования 40 , либо к схеме операции записи, которая может быть частью набора микросхем. 12 .
Переключатель 42 может включать в себя любое разнообразие избирательных переключающих устройств, включая автоматическое, ручное, механическое, электрическое, пневматическое, оптическое или любое другое подходящее устройство, способное выборочно подавать электрический сигнал на соответствующий компонент оптического привода 9.0049 10 .
Во время операции записи электрический сигнал от второго фотодиода 34 может быть направлен на схему операции записи через разъем набора микросхем 46 в переключателе 42 . Таким образом, электрический сигнал от второго фотодиода 34 может быть направлен на набор микросхем 40 .
Однако во время операции самопроверки переключатель 42 может подключать второй фотодиод 34 к схеме самопроверки 40 через разъем самопроверки 44 . Таким образом, электрический сигнал от второго фотодиода 34 может быть направлен на схему самопроверки 40 или любую другую подходящую схему самопроверки.
Поскольку второй фотодиод 34 может простаивать во время операций чтения, в некоторых вариантах осуществления оптический привод 10 может выполнять операции самопроверки, в то время как оптический привод 10 выполняет операции чтения. Как правило, при использовании второго фотодиода 34 для выполнения операции самопроверки оптического привода 10 , оптический носитель 24 может присутствовать или отсутствовать в оптическом дисководе 10 .
РИС. 3 представляет собой схематический вид оптического привода 10 , использующего второй фотодиод 34 и переключатель 42 для выполнения операции самотестирования с существующей схемой набора микросхем 12 . В некоторых примерных вариантах осуществления переключатель 42 может использоваться для выборочной передачи электрического сигнала от второго фотодиода 34 к первому сигнальному пути 9.0049 32 через разъем цепи 48 . Хотя показано, что электрический сигнал направляется через усилитель 38 , усилитель 38 может потребоваться или не потребоваться для увеличения силы или мощности электрического сигнала.
В одном конкретном варианте осуществления электрический сигнал направляется через усилитель 38 для увеличения уровня сигнала примерно до уровня сигнала, генерируемого первым фотодиодом 30 во время операции считывания. Кроме того, в некоторых вариантах осуществления второй фотодиод 34 может подключаться непосредственно к первому сигнальному тракту 32 без прохождения через переключатель 42 .
Когда электрический сигнал от второго фотодиода 34 направляется на набор микросхем 12 по первому пути прохождения сигнала 32 , набор микросхем 12 может анализировать электрический сигнал с помощью существующей схемы в оптическом приводе 10 , при этом электрический сигнал проходит в схему, используемую сигналом, генерируемым первым фотодиодом 30 . В одном примере электрический сигнал от второго фотодиода 34 может имитировать данные с тестового носителя, который используется с обычными оптическими приводами.
Направляя электрический сигнал на первый сигнальный тракт 32 , электрический сигнал можно протестировать с использованием существующей схемы в наборе микросхем 12 . Таким образом, оптический привод 10 можно проверить на работоспособность с использованием существующей схемы.
РИС. 4 иллюстрирует блок-схему использования второго фотодиода 9.0049 32 для самопроверки оптического дисковода 10 . На этапе 50 источник 16 света может излучать свет, имеющий предварительно определенную конфигурацию. Как правило, предопределенная конфигурация включает в себя тестовую схему, модуляцию или любое другое подходящее изменение света, например импульсы, которые следуют заданной конфигурации. В некоторых вариантах осуществления модуляция света может пульсировать таким образом, который имитирует тестовую среду.
На этапе 52 метод может обнаруживать часть света от источника света 16 на втором фотодиоде 34 . В некоторых вариантах осуществления на втором фотодиоде 34 обнаруживается уменьшенная часть света после прохождения через поляризованную зеркальную поверхность, которая отражает значительную часть света в сторону оптического носителя 24 .
На этапе 54 второй фотодиод 34 генерирует электрический сигнал на основе обнаруженного света. Поскольку электрический сигнал может быть пропорционален количеству обнаруженного света, усилитель 38 можно использовать для увеличения или усиления электрического сигнала до измеримого уровня. Таким образом, можно обнаружить проблему с источником света 16 или оптическим приводом 10 на основе измеряемого уровня обнаруженного света. Например, источник света 16 может излучать очень слабый свет, который заставляет второй фотодиод 34 генерировать очень слабый электрический сигнал, усилитель 38 может использоваться для увеличения сигнала до измеримого уровня, который позволяет проводить самопроверку. схема 40 для проверки работоспособности оптического привода 10 .
На этапе 56 метод сравнивает электрический сигнал с предварительно определенной конфигурацией для самопроверки оптического привода 10 .
Поскольку свет от источника света 16 излучается в заданной конфигурации, электрический сигнал, генерируемый вторым фотодиодом 34 , должен соответствовать заданной конфигурации, поскольку электрический сигнал основан на обнаруженном свете. Поэтому, сравнивая электрический сигнал с заданной конфигурацией, оптическое устройство 10 можно проверить на работоспособность.
В некоторых вариантах осуществления свет от источника света 16 может включать модуляцию или импульсы света, которые следуют тестовому шаблону, так что схема самотестирования 40 может сравнивать электрический сигнал с известным шаблоном или стандартом и, таким образом, тестировать работоспособность оптического привода 10 . На основе теста набор микросхем 12 , отдельно или в сочетании со схемой самопроверки 40 , может настраивать или регулировать по крайней мере один компонент оптического привода 9.0049 10 .
В других вариантах осуществления компьютерная система может получать выходные данные от оптического привода 10 , представляющие электрический сигнал для выполнения проверки работоспособности оптического привода 10 .
Компьютерная система может тестировать дисковод для оптических дисков 10 с использованием компьютерной программы, такой как программа инструкций, хранящихся в памяти, исполняемая процессором. Компьютерная программа отдельно или в сочетании с набором микросхем 12 может тестировать компонент оптического привода 9.0049 10 . В некоторых случаях компьютерная программа может использоваться в сочетании с набором микросхем 12 для настройки компонента оптического привода 10 .
В одном конкретном варианте осуществления электрический сигнал от второго фотодиода 34 может быть направлен непосредственно в первый сигнальный тракт 32 через переключатель 42 . Поскольку чипсет 12 может выполнять сравнение электрического сигнала с заранее заданной конфигурацией и, таким образом, тестировать оптический привод 10 , электрический сигнал может включать шаблон тестового сигнала, который имитирует оптические тестовые среды.
Таким образом, шаблон тестового сигнала может варьироваться в зависимости от типа выполняемого теста. Например, шаблон тестового сигнала может заставить источник света 16 посылать чередующиеся световые импульсы с высоким уровнем мощности, за которыми следуют световые импульсы с низким уровнем мощности, чтобы проверить диапазон обнаруженного света.
После получения тестового сигнала на наборе микросхем 12 , набор микросхем 12 может сравнивать шаблон тестового сигнала с предварительно определенной конфигурацией, хранящейся в памяти набора микросхем 12 . В качестве альтернативы образец тестового сигнала можно сравнить с предварительно определенной конфигурацией, хранящейся в памяти компьютерной системы. В любом случае оптический привод 10 может быть проверен на работоспособность с использованием второго фотодиода 34 .
Оптический привод 10 также может выполнять повторную самопроверку на работоспособность. Например, если один или несколько компонентов оптического дисковода 10 были настроены или скорректированы в результате первой самопроверки, оптический привод 10 может выполнить вторую самопроверку оптического привода 10 .